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熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。ISSPC1熒光光譜儀是一款高靈敏度，高集成，計算機控制的光子計數(shù)熒光光譜儀，廣泛應(yīng)用于物理化學(xué)，生物化學(xué)，生理學(xué)，神經(jīng)化學(xué)，分子生物，環(huán)境分析和免疫測定等科研領(lǐng)域。主要特征:1、高靈敏度緊湊化設(shè)計，優(yōu)化光路，以便樣品采樣室內(nèi)能接受到ZEI大的激發(fā)光照。緊湊集成設(shè)計使得儀器...

高溫環(huán)境XRD管實質(zhì)上是一個真空二極管。工作原理：給陰極加上一定的電流被加熱時，便能放出熱輻射電子。在數(shù)萬伏特高壓電場的作用下，這些電子被加速并轟擊陽極(又被稱為靶)。陽極靶面上受電子束轟擊的焦點呈細(xì)長的矩形狀(稱線焦點或線焦斑)，從射線出射窗中心射出的X射線與靶面的掠射角為3°-6°。從出射方向垂直焦斑長邊的兩個出射窗口觀察，焦斑呈線狀的稱為線光源；從另外兩個出射窗口觀察，焦斑如點狀稱為點光源。在衍射儀每次安裝管子時，辨別所使用X射線出射窗口是否為線焦點方向。此外，還要求測...

高光譜成像技術(shù)是基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術(shù)，它將成像技術(shù)與光譜技術(shù)相結(jié)合，探測目標(biāo)的二維幾何空間及一維光譜信息，獲取高光譜分辨率的連續(xù)、窄波段的圖像數(shù)據(jù)。高光譜成像技術(shù)發(fā)展迅速，常見的包括光柵分光、聲光可調(diào)諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等?？梢詰?yīng)用在食品安全、醫(yī)學(xué)診斷、航天領(lǐng)域等領(lǐng)域。高光譜圖像的特點：特征空間位數(shù)高，數(shù)據(jù)相關(guān)性強，冗余度高，運算時間長要求的訓(xùn)練樣本多可用于分類的特征多，既包括直接光譜向量，還可以計算光譜洗手指數(shù)，導(dǎo)數(shù)光譜，紋理特征，形狀特征等派生特征圖像...

巖礦分析系統(tǒng)是一種測試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測量方式可滿足國家標(biāo)準(zhǔn)；只需一次定標(biāo)，就可測算出視野范圍內(nèi)任意位置的鏡質(zhì)體反射率，提高了測量效率。巖礦及巖石礦物是一種存在在巖石物質(zhì)內(nèi)部，經(jīng)過長期自然因素的相互影響和相互作用形成的天然產(chǎn)物，也被稱之為自然聚合體。巖石礦物不存在與普通巖石中，通常在地殼內(nèi)，由單一或復(fù)雜的化學(xué)元素構(gòu)成。由于巖礦的構(gòu)成元素較多，這些組成元素之間又能進行相互作用、隨意組合，因此巖礦物質(zhì)具備明顯的多樣性的特...

煤巖分析系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分析模塊我們增加了判斷單種煤煤巖成分組成的方法，利用該判斷方法可以得到煤巖組成含量(鏡質(zhì)組、惰質(zhì)組、穩(wěn)定組)。單種煤的鏡質(zhì)組反射率表現(xiàn)為一個正態(tài)的分布，在全組分反射率累計直方圖一定區(qū)域內(nèi)它是一條直線，所以煤巖組分百分含量可以用在全組分反射率累計直方圖中鏡質(zhì)組反射率分布范圍內(nèi)的擬合直線與前后兩條斜率不同曲線的擬合直線的交點來確定。先根據(jù)鏡質(zhì)組反射率的方差進行測定該煤樣是單種煤或者混合煤。當(dāng)方差小丁0.12時，煤樣被判別為單種煤，用上述方法判斷煤巖組分，反之，則...

X射線衍射儀是礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器,用于對結(jié)晶物質(zhì)的定性和定量分析，還可確定類質(zhì)同象混晶（固溶體）的成分，有限固溶體的固溶極限，區(qū)分晶質(zhì)和非晶質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。測定晶體的有序－無序結(jié)構(gòu)及其有序度，以及粘土礦物的混層結(jié)構(gòu)等。工作原理：粉末樣品經(jīng)一束平行的單色X射線垂直照射后，產(chǎn)生一組以入射線為軸的同軸反射圓錐面族，計數(shù)管繞樣品旋轉(zhuǎn),依次測量各反射圓錐面2θ角（即衍射角，又稱布喇格角）位置的衍射線強度，即可獲得表征物相的各種衍射數(shù)據(jù)，從而進行物相鑒定和晶體結(jié)構(gòu)的研究。注意事項：...

超高壓XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此，X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵...