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巖礦的成分測定與分析是地質(zhì)工作的一個重要組成部分，它的研究對象主要是天然礦產(chǎn)，如巖石、礦物等；主要任務(wù)是利用一些技術(shù)手段(儀器分析、化學(xué)分析等)，對礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學(xué)組成進(jìn)行測定與分析。巖礦成分的測定與分析工作具有重要的意義，如何快速準(zhǔn)確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評價，是廣大地質(zhì)工作者的重要任務(wù)?？梢哉f，巖礦成分的測定與分析工作與我國的社會主義現(xiàn)代化建設(shè)有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)是一類能使物體離子化，并通過適當(dāng)?shù)碾妶?、磁場將它們按質(zhì)荷比分離、檢測分...

煤巖分析系統(tǒng)是以應(yīng)用煤巖學(xué)理論為基礎(chǔ)，可測定多個應(yīng)用煤巖學(xué)指標(biāo)，為合理優(yōu)化配煤提供了有力的數(shù)據(jù)支撐，是入廠煤檢驗(yàn)和優(yōu)化煉焦配煤技術(shù)的有效手段！近年來，我國國民經(jīng)濟(jì)的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對鋼鐵的需求，同時也拉動了煉焦生產(chǎn)的高速度發(fā)展。焦炭產(chǎn)能的快速擴(kuò)張導(dǎo)致煉焦煤供應(yīng)緊張，煉焦煤價格大幅度升高，又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術(shù)的應(yīng)用，對焦炭質(zhì)量提出了更高的要求，致使煉焦煤供應(yīng)更加緊張。同時，由于焦炭產(chǎn)能過剩，焦炭價格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應(yīng)緊張和經(jīng)濟(jì)效益低下的雙重壓力，如何...

掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，由于它具有制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn)，故被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。工作原理：掃描電鏡是對樣品表面形態(tài)進(jìn)行測試的一種大型儀器。當(dāng)具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時，電子與元素的原子核及外層電子發(fā)生單次或多次彈性與非彈性碰撞，一些電子被反射出樣品表面，而其余的電子則滲入樣品中，逐漸失去其動能，最后停止運(yùn)動，并被樣品吸收。在此過程中有99%以上的入射電...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。掃描電鏡具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。掃描電鏡的主要結(jié)構(gòu)：電子光學(xué)系統(tǒng)：產(chǎn)生高...

日本電子電鏡是一種用途廣泛的多功能儀器，具有很多*的性能，重要特點(diǎn)是景深大，圖像富立體感，具有三維形態(tài)。它可以進(jìn)行三維形貌的觀察和分析，當(dāng)然，還可以進(jìn)行微區(qū)的成分分析等其他方面的應(yīng)用。表面分析是指對材料的表面特性和表面現(xiàn)象進(jìn)行觀察分析、測量的方法和技術(shù)，是掃描電鏡基本、普遍的用途。通常用二次電子成像，來觀察樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成等情況。原子序數(shù)襯度是利用對樣品表層微區(qū)原子序數(shù)或化學(xué)成分變化敏感的物理信號，如背散射電子、吸收電子等作為調(diào)制信號而形成的一種能反映微區(qū)化學(xué)成分...

臺式電鏡SEM是一個相對年輕且發(fā)展迅速的產(chǎn)品。其實(shí)許多應(yīng)用領(lǐng)域并不需要使用低于1nm的高分辨率掃描電鏡（SEM），10nm的分辨率是綽綽有余的。然而，由于材料特征點(diǎn)尺寸越來越小和觀測需求的增加，而且它的放大倍數(shù)可高達(dá)130,000倍。此類新型儀器的出現(xiàn)*光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的空白區(qū)域，可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺式電鏡SEM的樣品制備方法：1.佩戴無粉手套，使用鑷子把丁型樣品臺放置在制樣臺上（嚴(yán)禁在樣品...

在材料領(lǐng)域中，普通掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其生產(chǎn)過程，可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式，還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。普通掃描電鏡（ScanningElectronMicroscope），簡寫為SEM，是一個復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技...